Element™ GD Plus GD

Descubre cómo redefinir el análisis de materiales avanzados de alta pureza directamente desde el sólido con el Thermo Scientific ™ Element GD ™ Plus GD-MS.

Marca: Thermo Scientific

Gran cantidad de muestras y límites de detección bajos con una calibración mínima y sin preparación de muestra, las aplicaciones de análisis y perfil de metales son de fácil aplicación con la técnica GD-MS.

Las cerámicas y otros no conductores se analizan mediante el uso de un electrodo secundario, proporcionando el mismo nivel de sensibilidad y calidad de los datos. Esto hace de la GD-MS el método estándar más fiable para el análisis de trazas de metales. Casi todos los elementos presentes en una muestra sólida pueden ser detectados y cuantificados rutinariamente: muchos por debajo de partes por billón (ppb).

 

Célda de descarga de chispa micro s-pulsado 

• Fuente de iones de alta sensibilidad con el modo de descarga pulsada

• Tasas de pulverización catódica ampliamente ajustables para análisis "bulk" y aplicaciones avanzadas de perfilamiento

• Análisis de polvo de alúmina mediante el uso de un electrodo secundario

 

Doble enfoque Espectrómetro de Masas

• Relación de señal a ruido que permite límites de detección sub-ppb basado en una alta transmisión de iones combinada con un ruido de fondo muy bajo

• Máximo nivel de selectividad y la exactitud de masas de alta resolución: un requisito previo para obtener resultados analíticos indiscutibles

 

12 Órdenes de magnitud del sistema de detección automática 

• Determinación de ultra-trazas y elementos de la matriz dentro de un solo análisis, como detector totalmente automático cubre 12 órdenes de rango dinámico lineal

• La determinación directa de los elementos de matriz para cuantificación (Relación de Ion Beam) IBR 

 

Software Suite de productividad y facilidad de uso

• Control absoluto de todos los parámetros desde el sistema de datos

• Evaluación de sintonización totalmente automatizada y análisis de datos

• Conectividad automática LIMS

• Control remoto y diagnóstico

 

• Capacidad de detección ultra-traza en un solo análisis

• Perfiles de profundidad de entre cientos de micrómetros a tan sólo una capa de unos cuantos nanómetros

• Efectos de matriz mínimos para la cuantificación directa

 

Recomendado para:

Superaleaciones de níquel, materiales compuestos, perfiles de profundidad de recubrimientos y capas de difusión

Microelectrónica: cobre, polvo de alúmina, la pulverización iónica de objetivos

Energía renovable: bloques de silicio, células solares

Médica / farmacéutica / alimentos: acero inoxidable, aleaciones

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